地方独立行政法人大阪産業技術研究所 森之宮センター

テクニカルシート・事例集

原子間力顕微鏡(Atomic Force Microscope: AFM)

内容高度試験・分析

分野プラスチック、無機材料、めっき、金属材料、電池、その他

原子間力顕微鏡(Atomic Force Microscope: AFM)は、板ばねに取り付けられた微小な探針でサンプルの表面をスキャンすることで、表面の凹凸や弾性などを測定する装置です。探針をごく弱い力でサンプル表面に触れさせながら測定するため、板状・フィルム状など比較的平坦なサンプルでさえあれば、材質を問わずその表面のナノサイズの凹凸を測定することができます。また、表面の凹凸を立体感のある斜めから見た図として表示できるほか、スキャン範囲内の任意の2点間の断面図を出力し、微細パターンの幅や高さなどの情報を得ることもできます。本研究所が保有するSHIMADZU SPM-9600では、スキャンの最大範囲は30μm角、その範囲内にある数nmの凹凸を読み取ることができます。本装置の性能やご使用に関しては、担当者までご相談ください。

この事例に関するお問合せ

光機能材料研究室
  • 渡辺充 06-6963-8029

9:00~12:15/13:00~17:30(土日祝・年末年始を除く)

掲載されている内容、お問合せ先、その他の情報は、発表日現在の情報です。その後予告なしに変更となる場合があります。また掲載されている計画、目標などは様々なリスクおよび不確実な事実により、実際の結果が予測と異なる場合もあります。あらかじめご了承ください。

ページトップへ