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計測機器・装置

計測機器・装置

(単位:円)

名称メーカー名・型式など番号全日9:00-17:30午前9:00-12:15午後13:00-17:30
位相差顕微鏡 ニコン
XF-PH-2
E02 3,100 1,300 1,800
カールフィッシャー水分測定装置 三菱化学
CA-200
E06 7,300 3,100 4,200
起泡力測定装置 ロスマイルス法 E07 6,200 2,600 3,600
三次元寸法測定装置 三豊 E08 10,400 4,400 6,000
実体顕微鏡 ニコン
SMZ-10A(CCDカメラ付)
E11 2,000 900 1,100
実体顕微鏡 オリンパス
SXZ12
E12 3,100 1,300 1,800
照度計 トプコンサービス
IM-5
E13 3,100 1,300 1,800
静電気半減期測定装置 シンド静電気
H-0110-C
E15 8,300 3,500 4,800
接触角測定装置 協和界面科学
CAX-150
E16 5,200 2,200 3,000
デュロメータ硬度計 高分子計器
A型、D型
E18 5,200 2,200 3,000
電気抵抗測定装置 横河電機
HP4339A
E19 7,300 3,100 4,200
バーコール硬度計 コールマン
GYZJ 934-1
E21 5,200 2,200 3,000
万能工具顕微鏡 東京光学機械
T.U.M-150B
E22 6,200 2,600 3,600
非接触ハンディ温度計 キーエンス
IT2-80
E24 3,100 1,300 1,800
表面自由エネルギー測定装置 協和界面科学
CAX-150(FAMAS)
E25 10,400 4,400 6,000
表面張力計 協和界面科学
CBVP-A3(吊板式)
E27 10,400 4,400 6,000
表面張力計 クルス
BP-2(最大泡圧法)
E28 10,400 4,400 6,000
分子配向計 王子計測機器
MOA-6015
E29 8,300 3,500 4,800
偏光ひずみ計 神港精機
ポーラリメータ
E30 3,100 1,300 1,800
偏光顕微鏡 オリンパス
BHS-PC-B型
E31 5,300 2,300 3,000
レーザー顕微鏡 レーザーテック
VL2000D
E34 10,400 4,400 6,000
レーザー顕微鏡 オリンパス
LEXT OLS4100
E59 10,400 4,400 6,000
ポータブルポテンシォガルバノスタット 北斗電工
HA-151
E37 5,200 2,200 3,000
無抵抗電流計 北斗電工
HM-104
E38 5,200 2,200 3,000
寸法測定機器セット ノギス マイクロメーター ハイトゲージ E40 1,000 500 500
摩擦帯電圧測定装置 興亜商会
RST-201
E41 7,300 3,100 4,200
帯電圧半減期測定装置 日本スタティック
S-4104III
E42 10,400 4,400 6,000
BOD測定装置 タイテック
200F
E43 3,100 1,300 1,800
化学発光撮影装置 東洋紡績
FAS-1000
E44 3,100 1,300 1,800
双眼実体顕微鏡 (単一倍率 40倍) E45 2,000 900 1,100
pHメーター HORIBA
pH meter F-23
E46 4,100 1,800 2,300
触針式段差・表面粗さ計 小坂研究所
ET3000i
E47 10,400 4,400 6,000
FFTアナライザ 小野測器
DS-2000
E48 5,200 2,200 3,000
ガウスメーター レイクショア
475型
E49 4,500 1,900 2,600
テクスチュロメータ 全研
GTX-2-IN
E50 5,500 2,400 3,100
精密騒音計 リオン
NL-52
E51 5,100 2,200 2,900
電子天びん(国家検定付、1g~6200g) 島津製作所
UW6200HV
E53 950 400 550
分析天びん(0.01g~320g) 島津製作所
AUX320
E54 950 400 550
多波長アッベ屈折計 アタゴ
DR-M4
E55 4,300 1,900 2,400
ロックウェル硬さ試験機 ミツトヨ
HR-522
E56 4,100 1,800 2,300
実体顕微鏡 オリンパス
SZX16
E57 2,900 1,300 1,600
簡易融点測定器 柳本製作所
MP-J3
E58 3,900 1,700 2,200
分析型透過電子顕微鏡装置 日本電子
JEM-2100
LE01 70,100 29,400 40,700
分析型走査電子顕微鏡 日本電子
JSM-6610 LA
LE02 25,100 10,600 14,500
走査電子顕微鏡 日立ハイテクノロジーズ
SU1510
LE03 16,700 7,100 9,600
集束イオンビーム加工観察装置(FIB-SEM) 日本電子
JIB-4500
LE06 64,300 27,000 37,300

※マークの機器・装置はライセンスが必要となります。(ライセンス制度について

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